黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試有哪些區(qū)別

　　黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試有哪些區(qū)別?黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試是軟件測(cè)試中不同測(cè)試方法，一些初學(xué)者可能不了解二者的差別，小編整理了以下內(nèi)容以幫助大家區(qū)分黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試。

　　1.比較黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試。

　　內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)不需要考慮在黑盒測(cè)試過程中，只需要驗(yàn)證軟件的外部功能是否滿足用戶的實(shí)際需求。黑盒測(cè)試可發(fā)現(xiàn)以下缺陷：

　　(1)界面顯示信息錯(cuò)誤等外部邏輯功能缺陷。

　　(2)系統(tǒng)版本支持、運(yùn)行環(huán)境等兼容性錯(cuò)誤。

　　(3)性能問題，如運(yùn)行速度、響應(yīng)時(shí)間等。

　　與黑盒測(cè)試不同，白盒測(cè)試可以設(shè)計(jì)測(cè)試用例，盡量去覆蓋程序中的分支語句，分析程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。白盒測(cè)試通常用于下面這幾種情況：

　　(1)源程序包含多個(gè)分支，在設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)應(yīng)盡可能覆蓋所有分支，以提高測(cè)試覆蓋率。

　　(2)內(nèi)存泄漏檢查速度快，黑盒試驗(yàn)只能在程序長(zhǎng)期運(yùn)行中發(fā)現(xiàn)內(nèi)存泄漏問題，而白盒試驗(yàn)可以立即發(fā)現(xiàn)內(nèi)存泄漏問題。

　　2.測(cè)試階段。

　　在不同的測(cè)試階段，黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的使用情況也不同，如表3-9所示。

　　在不同階段使用表黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試。

　　從表格中我們可以看到，每個(gè)環(huán)節(jié)使用的測(cè)試方法不一樣。在測(cè)試過程中，黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的結(jié)合可以很大程度提升軟件測(cè)試的質(zhì)量。

　　軟件測(cè)試實(shí)際工作中，黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試并不是非此即彼的關(guān)系，而是相輔相成的關(guān)系，初學(xué)者要明確這一點(diǎn)，后期的測(cè)試項(xiàng)目會(huì)更加從容。更多關(guān)于“軟件測(cè)試培訓(xùn)”的問題，歡迎咨詢千鋒教育在線名師，如果想要了解我們的師資、課程、項(xiàng)目實(shí)操的話可以點(diǎn)擊咨詢課程顧問，獲取試聽資格來試聽我們的課程，在線零距離接觸千鋒教育大咖名師，讓你輕松從入門到精通。